Tektronix P6248 Oscilloskop probe Differentiel 1.5 GHz 10:1 BNC

Se alle Oscilloskop - prober

Indhold (1 enhed)*

Kr. 83.325,00

(ekskl. moms)

Kr. 104.156,25

(inkl. moms)

Add to Basket
Vælg eller skriv antal
På lager hos producent
  • Klar til afsendelse fra 06. juli 2026
Har du brug for mere? Indtast den mængde, du har brug for, og klik på "Tjek leveringsdatoer"
Enheder
Per stk.
1 +Kr. 83.325,00

*Vejledende pris

RS-varenummer:
796-6727
Producentens varenummer:
P6248
Brand:
Tektronix
Find lignende produkter ved at vælge én eller flere attributter.
Vælg alle

Brand

Tektronix

Følertype

Differentiel

Produkttype

Oscilloskop probe

Dæmpning

10:1

Båndbredde

1.5GHz

Common-mode indgangsspænding maks.

25V

Stiktype

BNC

Modelnummer

P6248

Antal følere

1

Stigetid

265ps

RoHS Status: Ikke relevant

COO (Country of Origin):
US

Tektronix differentialprober P6246, P6247, P6248


Tektronix differentialprober P6246, P6247 og P6248 gør det muligt for brugere at foretage målinger af tids-domæne eller frekvens-domæne på signaler med stor båndbredde, som ofte findes i diskdrev, digitalt IC-design (RAMBUS) og kommunikation (Gigabit Ethernet, IEEE-1394 Firewire og Fibre Channel). P6248 leveres med tilbehør, som muliggør RAMBUS via probemåling og IEEE-1394 forbindelse. Alle proberne har lille probehovedgeometri. De leveres med probespidstilbehør til manuel probemåling af overflademonterede enheder, mens høj CMRR bevares. De er populære valg til designverifikation af elektronik i diskdrevs læsekanal og tidsanalyse til fejlfinding af jordprelproblemer med højhastigheds logik. Yderligere anvendelser omfatter impulsform eller overensstemmelsestest af krydstale i højhastigheds kommunikationssignaler.

Til brug sammen med oscilloskoper, spektrumanalysatorer og netværksanalysatorer

Lav indgangskapacitet <1 pF differentiale

Probe-indgangsstik: to standard 0,025 tomme/0,63 mm (0,1 tomme i center) kvadratiske ben (hun)

Elektrostatisk udladningstolerance (IEC 801-2)

>60 dB (1000:1) Common Mode Rejection Ratio (CMRR)

Lille probehoved for enkel probemåling af SMD-komponenter

Relaterede links