SCANSTA111MT/NOPB, 7-Bit, Adresserbar scanport, 3 → 3,6 V, 48 Ben, TSSOP

Texas Instruments SCANSTA111 udvider IEEE Std. 1149.1 testbus til et multi-drop testbusmiljø med fordelen af forbedret testgennemløb, og med mulighed for at fjerne et printkort fra systemet, samtidig med at testadgangen opretholdes til de resterende systemmoduler. Hver enhed understøtter op til tre lokale IEEE 1149.1 scanringe, der kan kombineres serielt eller tilgås individuelt. En 32-bit TCK tæller muliggør, at indbyggede selvtest-funktioner kan udføres på én port, mens andre scankæder testes samtidig.

IEEE 1149.1 standard prøveadgangsport og boundary-scan-arkitektur bruger enheder kendt af JTAG akronym, fra Joint Test Action Group, og anvendes til at afprøve og debugge systemporte og samlede printkort. De fleste embedded systemer anvender JTAG porte til at gøre in-circuit debugging og firmwareprogrammering mulig ud over afprøvning af grænsescanning.