Keithley 2606B Kildemåler, 4-kanals, 100 nA → 3 A, serie 2600B

2606B System SourceMeter-instrument og kildemålingsenhed (SMU) har fire 20 watt SMU-kanaler i et 1U-kabinet med høj formfaktor. 2606B er fremstillet ud fra Keithleys tredjegenerations SMU-teknologi og giver kombinerede muligheder i form af en præcisionsstrømforsyning, sand strømkilde, 6-cifret digitalt multimeter, arbitrær kurveformsgenerator og impulsgenerator—alt i ét kompakt instrument. Resultatet er en effektiv løsning, der i betydelig grad øger produktiviteten i krævende automatiseret kvalificerings- og produktionstestning af optoelektroniske enheder, f.eks. VCSEL’er/laserdioder, som anvendes i 3D-registrering, telekommunikation og LED i forbrugerprodukter og biler samt i integrerede enheder såsom analoge IC'er, ASIC'er, og system-on-a-chip-enheder (SOC). Når et højt SMU-kanalantal er nødvendigt, kan flere 2606B-enheder stables oven på hinanden uden behov for termisk afstand mellem enhederne. Indbygget browserbaseret software gør det muligt at kommunikere med 2606B via en hvilken som helst computer fra et hvilket som helst sted i verden. Til automatiserede systemanvendelser, kører 2606B’ens Test Script Processor-teknologi (TSP®) komplette testprogrammer inde fra instrumentet, som giver branchens bedste kapacitet. I større anvendelser med flere kanaler, arbejder Keithleys TSP-Link® -teknologi sammen med TSP-teknologien for at give mulighed for højhastigheds SMU-per-pin paralleltestning. Hver 2606B SMU er kodekompatibel med branchens førende Keithley 2602B System SourceMeter SMU-instrument, når du bruger de nye serier.

• 4-kanals SMU-instrument i et enkelt 1U-kabinet i fuld rackstørrelse
• Stabelbar, ingen krav til 1U-afstand mellem enhederne
• De kompakte spændings-/strømkilde- og måleinstrumenter har klassens bedste ydeevne med en 6-cifret opløsning
• 20 V ved 1 A og 6 V ved 3 A effektbegrænsning, 20 watt
• 0,015 % DCV-basisnøjagtighed
• Op til 28 åben drain digitale I/O-bits
• Sammenhængende resultater i 2602B System SourceMeter SMU-instrumentet
• TSP-teknologi indlejrer komplette testprogrammer inde i instrumentet og giver klassens bedste kapacitet på systemniveau
• TSP-Link udvidelsesteknologi for multi-kanal parallel test uden en mainframe
• LAN (LXI-C) i frontpanelet, USB 2.0 TMC488-protokol og digitale I/O-interfaces
• Indbygget webbrowserbaseret software giver mulighed for fjernbetjening via en browser på en hvilken som helst computer fra et hvilket som helst sted i verden

I-V funktionstest og karakterisering af et bredt udvalg af udstyr, herunder:
• Optoelektroniske enheder
- Vertical Cavity Surface Emitting Lasers (VCSEL'er), laserdioder (bruges på 3D-registreringssystemer)
- Høj lysstyrke (HBLED'er), lysemitterende dioder (LED)
- Displays
• Integrerede enheder Small Scale Integrated (SSI) og Large Scale Integrated (LSI)
- Analoge IC'er
- Radiofrekvensintegrerede kredsløb (RFIC’er)
- Applikationsspecifikke integrerede kredsløb (ASIC'er)
- System-on-chip-enheder (SOC)
• Diskrete og passive komponenter
- Sensorer med to tilledninger, diskdrevhoveder, metaloxidvaristorer (MOV), dioder, zenerdioder, sensorer, kondensatorer, termistorer
- Bipolære junction-transistorer (BJT) med tre tilledninger og lille signal, fieldeffect-transistorer (FET) og meget mere
• Simpel IC-optoelektronik, drivere, kontakter, sensorer, konvertere, regulatorer