Tektronix TDP1000 Oscilloskop probe Differentiel 1 GHz TDP

Se alle Oscilloskop - prober

Indhold (1 enhed)*

Kr. 54.691,50

(ekskl. moms)

Kr. 68.364,38

(inkl. moms)

Add to Basket
Vælg eller skriv antal
På lager
  • 5 enhed(er) klar til afsendelse
  • Plus 1 enhed(er) klar til afsendelse fra et alternativt lager
Har du brug for mere? Indtast den mængde, du har brug for, og klik på "Tjek leveringsdatoer"
Enheder
Per stk.
1 +Kr. 54.691,50

*Vejledende pris

RS-varenummer:
668-7167
Elfa Distrelec varenummer:
110-29-489
Producentens varenummer:
TDP1000
Brand:
Tektronix
Find lignende produkter ved at vælge én eller flere attributter.
Vælg alle

Brand

Tektronix

Produkttype

Oscilloskop probe

Følertype

Differentiel

Båndbredde

1GHz

Common-mode indgangsspænding maks.

30V

Modelnummer

TDP1000

Serie

TDP

Standarder/godkendelser

ISO 9001, CE, ISO 14001

Stigetid

350ps

RoHS Status: Ikke relevant

COO (Country of Origin):
US

Tektronix oscilloskop-prober


Tektronix differentiel oscilloskop-probe med høj spænding giver en fremragende elektrisk og mekanisk ydelse ved høj hastighed, der kræves til switch-mode strømforsyning (SMPS), CAN/LIN-bus og digitale systemer med høj hastighed.

Egenskaber og fordele


Båndbredden er DC til 1 GHz

Dæmpningen er 50:1 / 5:1

Stigetiden er 350 hk

Differential-mode indgangsspænding er ±42 V (DC + pk AC); 30 VRMS

Indgangsimpedans er 1 Mohm ll< 1 pF hver side til jord

Common-mode spændingsområde er ±30 V (DC + pk AC); 25 VRMS

Ikke-destruktiv maks. indgangsspænding er ±100 V (DC + pk AC)

CMRR (typisk) er 55 dB ved 30 kHz> 50 dB ved 1 MHz> 18 dB ved 250 MHz

Valgbare filtre til begrænsning af båndbredde

DC-afvisning

Tilsluttes til nogle Tektronix oscilloskoper ved hjælp af TekVPI™ probeinterface

Nem adgang til den probe, der vises i området, til oplysninger om probeopsætning og driftsstatus

Auto-nul – null output offset

Anvendelsesområder


Design af strømforsyning til switch-mode med høj hastighed

CAN/LIN bus-design

Digitalt design og karakterisering

Produktionsteknisk test

Forskning og udvikling

Relaterede links